關(guān)鍵詞：微系統(tǒng)組件 自動測試 數(shù)據(jù)庫 知識庫 

摘要：介紹了為實現(xiàn)小批量多品種微系統(tǒng)組件的通用測試,并在測試過程中提供相關(guān)知識幫助調(diào)試開發(fā)的通用測試與知識系統(tǒng)。通過對微系統(tǒng)組件測試指標(biāo)和測試方法進(jìn)行共性分析,將不同測試指標(biāo)的儀器控制和測試方法封裝成獨(dú)立的測試模塊。運(yùn)用抽象類、數(shù)據(jù)庫和條碼掃描等技術(shù)使儀器具有可換性,測試項目可配置,測試儀器可自動設(shè)置,測試結(jié)果可自動判定,測試工序有幫助,實現(xiàn)微系統(tǒng)組件的通用測試。通過知識系統(tǒng)的應(yīng)用減少了自動測試系統(tǒng)的重復(fù)開發(fā),降低了測試人員的要求,取得了良好的生產(chǎn)效益。

電子工藝技術(shù)雜志要求:

{1}摘要及關(guān)鍵詞：文中必須附中文摘要，內(nèi)容包括目的、方法、結(jié)果(應(yīng)給出主要數(shù)據(jù))及結(jié)論4個部分內(nèi)容，要求以第3人稱撰寫200-300字為宜，并附3-8個關(guān)鍵詞。有條件者，可將文題、作者、單位、摘要及關(guān)鍵詞譯成英文。

{2}來稿力求做到富有思想性，觀點(diǎn)新穎、概念準(zhǔn)確、論證嚴(yán)謹(jǐn)、邏輯清晰、資料翔實、格式規(guī)范、文字精煉。

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